PROLIST
產(chǎn)品展示您的位置 >> 首頁 > 產(chǎn)品展示 > 電力檢修儀器儀表 > S916介質損耗及介電常數(shù)測試裝置 > WGJSTD-B介質損耗及介電常數(shù)測試儀
WGJSTD-B數(shù)字式介質損耗及介電常數(shù)測試儀是我公司一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。它以單片計算機作為儀器的控制、測量核心，真正實現(xiàn)了Q值的數(shù)字化，電容、電感、Q值、信號源頻率都在一個液晶屏上展示出來，采用特制介質損耗測試裝置和單位計算可以的計算出介質損耗及介電常數(shù)，在你操作時，再也不用去注意量程和換算單位。
| 詳細介紹 |
本儀器的測試回路可用被測元件L、主調諧電容C、回路的損耗電阻R構成的串聯(lián)電路來等效，當測試回路諧振時（高頻信號源輸入信號的頻率為諧振頻率w0），主調電容上的電壓是信號源輸入電壓的Q倍，或Q=w0L/R=1/w0CR，顯然信號源頻率w0的穩(wěn)定度和精度、主調電容C的精度和分辨率、測試回路的高頻損耗R決定了儀器的品質。模擬式的信號源穩(wěn)定性差，主調電容的分辨率和讀數(shù)精度低，使用復雜，并且不可避免地存在主觀的操作誤差。 WGJSTD-B傳承*代WGJSTD-A數(shù)碼化、人性化設計理念，采用數(shù)字化主調電容、LCD大屏幕液晶顯示全參數(shù)、DDS直接數(shù)字合成信號源三項創(chuàng)新技術，使WGJSTD-B的技術性能、使用功能大為提升,*改變了老款面板上印制的二組輔助表格計算LCQ的落后狀況，WGJSTD-B讀數(shù)清晰,無須換算，操作簡便，特別適合電子元器件的質量分析、品質控制、科研生產(chǎn),也可用于高等院校的材料科學、電子信息、電子通信、等專業(yè)作科研實驗儀器。
| |||||||||||||||||||||||||||||||||
|
||||
|
||||
 |
 |
